ICT机器测试难点
电解电容：
| 问：本公司的ICT机器测电容极性与其它厂家之ICT测电容极性有什么区别? |
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答：本公司电容极性测试采用EC Jet测试技术，不但速度快、稳定，且可测率可达百分之百，不会漏测或误判。其它厂家机器用漏电流法测试, 仅有30~40%之可测率。 |
| 问：本公司的ICT机器电解电容极性可测率如何？ |
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答：经实测证明可测率100%，不漏判。 |
| 问：电容极性怎么测(位置不规则的)？ |
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答：排针可以有效捕捉偏移。 |
| 问：电容倒立时能不能测其极性？ |
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答：不可测。 |
| 问：电容并联电感(或小电阻)：需用交流电信号以相位分离法检测，但有误差，不易测出。 |
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答：测试频率达2MHz，盲点范围较小(测Z时，测量信号避开谐振点) |
| 问：小电容300PF：标准值易偏高，较受旁路干扰，标准值易变更、不稳。 |
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答：不会, 本公司采2MHz高频信号源较易测试，除非实际线路构成测试盲点，否则测试上不成问题。 |
| 问：小电容并联大电容：无法准确测量小电容。 |
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答：此部份属电路原理盲点，每一家ICT都测不到。 |
| 问：本公司的EC Jet用三端测试，而别家也是用三端测试，可测率应该一样？ |
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答：他牌的电解电容三端测试采用的是漏电流法，因各家电解电容数值不同，所以可测率低，只有30~50%。而本公司EC Jet是从外部施加激发讯号后，再收集三端读入之讯号，经DSP运算产生一组向量(Vector)，利用Pattern Match方式决定其正反极性, 100%正确测试极反及漏件。 |
| 问：本公司的EC Jet测电解电容为何速度如此之快？ |
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答：传统漏电流三端测试因为是采充放电方式，所以测试时间长；本公司EC Jet因为是采外部激发讯号方式，不用充放电，所以测试速度快。 |
二极管
| 问：稳压二极管最高可测到多少V？ |
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答：最大逆向电压可测到15V or 200V(选购)。 |
| 问：稳压二极管我们公司有十伏至48伏，需要再加高压板吗？测试时需要用高低针吗？ |
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答：ZENER顺向可测，逆向崩溃值可测到200V，需选购高压模块,不需用高低针。 |
| 问：齐纳二极管( Zener Diode )：量测电压为它的崩溃电压，超过系统量测范围。 |
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答：此部份属电路原理盲点。 |
| 问：二极管与电感并联、二极管与跳线或保险丝并联，无法准确量测。 |
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答：此部份属电路原理盲点。 |
| 问：二极管并联二极管：无法测量。 |
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答：DR mode 100%可以测, 这是我们的特点。 |
| 问：为什么二极管并个大电容﹐测不出来？ |
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答：测得出，但较花时间。 |
IC
| 问：7805与7812能不能测试？ |
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答：可以,需另购ATE模块。 |
| 问：BGA能不能测？ |
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答：专利TAJ技术专测BGA, 可以测。 |
| 问：IC之保护二极管并联本身或其它IC之保护二极管，致IC脚空焊或折脚无法量测。 |
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答：TAJ可以解决此类问题。 |
| 问：感应法可测率如何？ |
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答：除了IC两支脚间有小阻抗(<10奥姆)时，会产生测试盲点外，100%可测。 |
电阻
| 问：ICT可否能测小于1奥姆的电阻？ |
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答：采用四线制量测，可以测到50毫欧。 |
| 问：目录写的0.1奥姆也可以测，可是下针的时候，针的阻值就超过了啊。 |
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答：对, 两针法offset到,四针法精密量可达50毫欧。 |
| 问：热敏电阻，ICT能测吗？ |
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答：热敏电阻的阻极是随温度的变化而变化的。测试温度稳定的话，阻极变化很小，跟测普通的电阻一样。测试温度变化，阻极变化也大，要把测试误差范围放大，这样可以解决大部分的热敏电阻问题。 |
| 问：电阻并联电容：因为电容之充放电效应,测量值轿标准值偏低，延迟时间不可超过500 M Sec 重复测试不可超过5次，测试较不稳。 |
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答：测Z有机会，并联大电容较花时间。 |
| 问：小电阻并联大电阻：大电阻无法量测。（相差20倍以上） |
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答：测等值电阻，要靠测试精度抓大电阻问题，小电阻测得到没问题。 |
| 问：电阻并联电感：在直流信号源下是近似短路，所以无法被准确测出。 |
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答：此部份属电路原理盲点，各家ICT都测不到。 |
| 问：电阻并联跳线：所有的电流皆流经跳线，所以电阻无法被测出。 |
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答：对, 你的电子学很好。 |
其它
| 问：单端点之线路断线无法测试。 |
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答：要植针才会Show出，或断线端有可测零件时会测出该组件故障,不会指示开路。 |
| 问：晶振(Crystal)可否测出？ |
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答：可以,需另购计频模块。 |
| 问：场效应管翘脚量(FET open)测得到？ |
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答：除非是测试盲点，否则不可能测不到。 |
| 问：机器测试的时候，经常一次测不好需要再多测几次才会Pass，要如何改善呢？还是机器有问题？ |
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答：正常状况下是一次即可pass，无铅制程, 因接触问题,可能需要设定重测3-4次。 |
| 问：ICT测不准，如电容10nF，ICT测为12nF，拔下LCR，测为10.5nF；这是为什么？ |
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答：1、目标不同，ICT解决生产问题，LCR解决来料质量问题，其设计针所对测试要求不一样。 2、测试条件是否相同（频率、电压等） 3、ICT是在线测（含线路板影响，电路、杂散电容，针床等），LCR单纯测一组件，当然准确多了。 故此，此12nF非ICT测试不准确，而是包含了线路其它电容量，若测此单个电容一样可测出10nF |