不过STE很常见，尤其是对特定程序如模块测试，但也应该仔细研究ATE带来的其它方案，尤其是那些具有开放架构优点可能改变这一趋势的系统，内部测试资源更应该专用于生成测试方案，和设计专门测试平台相比这些资源具有更为独特的技能与知识。

　　自动测试设备(ATE)　　通用自动测试设备(GPATE，或简称为ATE)是一种非常先进灵活的方案，可以满足多种产品与程序测试要求，从最初出现迄今已有三十多年历史。当微型计算机控制的仪器出现以后，ATE的结构设计为直接针对测试需要，系统集成、信号连通灵活性、增值软硬件、面向测试的语言、图形用户界面等是ATE，比如SEICA的VALIDS40功能测试平台，和STE之间的主要区别。

　　泰瑞达公司创始人Alexd’Arbeloff在2002年10月国际测试大会的主题演讲中，对广泛采用开放架构趋势提出批评，认为它只是简单将不同模块加在一起然后用于所有测试提供商的标准机架上。他说：“这种方法对ATE业界没有什么好处，测试设备用户所得到的只是来自于ATE供应商提供的系统集成，否则用户就得自己做或者要另外付费。”实际上，基于专用技术硬软件架构同时也通过向第三方仪器供应商与标准开放，这种满足开放架构的优点将很可能成为厂商最佳选择。

　　让我们仔细看一看现代ATE的架构并探讨其优点。

　　FCT测试架ATE是一种商用系统，有很多公司都提供这类设备，虽然它和普通设备如在线测试仪或MDA不一样。功能测试更为复杂，需要有实力的供应商的经验和认真投入。可以在市场上购买(有时又称为COTS)有很多优点，它使ATE能充分利用供应商多年的经验以及NRE投资，这对于ATE供应商提供创新新技术同时又保持现有特性特别有意义。它对军事/航空产品非常重要，因为这类产品具有较长生命周期，且有很多新旧产品并存同时都要不断进行测试，比如ATE经过改进可以为低电平器件进行可重复测试，但同时旧的CMOS电平测试仍然需要提供。另一个例子与用于诊断的指引探测技术有关，该技术几乎不能用于某些新封装技术，但你是否会买一个不带这种功能的测试仪呢？