用于并行测试的数字通道是ATE主要部分之一，通常使用专用结构，因为它专门设计用于满足各种测试要求，速度、控制性能、数据深度、整个时序范围灵活性、宽电压幅值等等都是需要了解的特性，以便知道它如何方便地使系统满足每个人的测试需求。串行数字测试带有大量协议，通常由集成到系统内部的专门仪器提供，IEEE1194.2或JTAG/边界扫描测试技术也是同样情况，可以完整集成到综合测试环境中。

　　与STE结构类似，ATE系统结构中集成了很多商用仪器以提供模拟测试功能。这里需要澄清什么叫“集成”。驱动仪器最简单的方法是通过在计算机与仪器之间建立一个双向通信很容易地实现，使用户可以与其进行交流，但这并不是“集成”，只是一个简单的接口。这种方式下通过交换字符串或调用C程序对仪器编程，使得任务冗长而复杂，同时程序文件编制、程序改变或调试操作都需要技巧与耐心，此外如果仪器已经陈旧需要更换，那么所有程序都需要纠正，通常STE上用户使用仪器就是采用这种方式。

　　仪器集成还包括仪器层之间的通信，但用更高层指令保护编程与调试，以避免上面的所有问题，例如对任意DMM编程进行电压测量可用如下简单语句：MEASURE V at PIN ACK1 TEST (4.9V MIN, 5.1V MAX);　　软件驱动器可以给ATE提供仪器与附加接口层，语言则保证仪器集成的有效性，系统控制管理DMM和UUT上ACK1引脚之间的连接。

　　如果因为仪器陈旧改变DMM，只需要一个新的驱动软件和协议层，所有测试程序均保持不变。　　除了仪器全面集成带来的优点之外，ATE还能为信号路由和连接提供更好方案。ATE专用背板大多数情况下包括一个模拟总线，可以让仪器直接连到任何引脚，而不会使内外引线变得复杂。这种灵活性通常可扩展到将模拟和数字通道合在一起(混合通道)，使用户在任何时候连接数字或模拟激励，并测量接收器任意引脚。其结果是不仅使成本大大简化降低，同时测试程序也更易于实现。