（2）测试程序编写　

　　依照IC需要测试项目编写测试程序，程序编写可以利用图像(Icon)拉图的方式编写，使用者只要在该测试图像中输入测试的参数就可以。此种使用方式对于测试程序编写较为容易。另一种是使用“指令”（Command）方式编写测试程序，此种方式较为复杂，使用者需要熟记指令的语法，但对于特殊的IC测试应用，指令的使用则较拉图方式来得更有弹性且方便。

　　（3）时序图显示（Logic Waveform）

　　该功能可以记录及显示IC测机输出信号的波形及DUT IC输出信号的波形，若DUT IC输出的信号和Test Pattern不一样该时序图显示功能也能显示出来。

　　（4）测试程序除错（Debugging）

　　可以显示各种量测的结果,同时也让使用者直接修改测试参数，并可以立即量测。

　　（5）Shmoo分析

　　可量测及分析IC的电气特性，使用者可以设定一个或多个测试参数的范围值后，再量测IC，以得知IC在某测试范围其功能会正常，在某测试范围会发生异常，如此就可以得知该IC的使用电气特性。

　　（6）测试结果（Summary Report）

　　IC测试机会将IC所测试的项目及测试值显示及记录下来，同时也会将IC依照测试程序的设定，将不同测试项目的结果给予分类及统计，以作为测试生产报表使用。

　　3 总结

　　IC测试机除了给IC代工测试厂，作为IC测试使用之需要，同时也可以给IC设计公司，作为IC工程验证使用，它是十分方便且有用的设备，然而却发现IC测试的需要较高于IC测试机所能提供的测试功能，其原因不外乎是当IC有研发出来的新功能时，IC测试机才会要开始开始研发该部分的测试功能，故IC测试机总是无法完全满足使用IC功能的测试需要，因为如此，IC测试将提供给每位IC测试工程师及IC测试机制造厂一个很大的努力空间，最后期望于未来将有更多的优秀工程师能投入IC测试的领域，彼此相互研究及分享IC测试的经验，进而提高IC测试技术。