XML | RSS
公司首页 公司简介 新闻资讯 产品介绍 技术文档 人才招聘 联系我们
首页新闻资讯 >> 浅谈集成电路测试机

浅谈集成电路测试机

1 前言

  集成电路
测试机的种类,若依照其测试功能一般可区分为Logic测试机,Memory测试机及Mixed-signal测试机三大类。其中Logic测试机应用于一般消费性IC,如Voice,MCU IC等测试使用,Memory测试机应用于DRAM,Flash,SRAM等IC测试使用,而Mixed-signed测试机,则应用于Mixed-Signal IC测试,如Vedio,SoC IC等测试使用。

  虽然不同种类的IC
测试机使用于不同类型的IC测试使用,但其最基本的测试功能及原理实际上差异性并不大,只是不同类型的测试机多了某些特别的测试功能罢了,其中以Logic测试机之测试功能最为基本,故本文将以Logic测试机之功能及使用作为IC测试机之介绍。Logic IC测试机之功能一般可区分为:AC测试部分,DC测试部分,电源供给部分。

  (1)AC测试部分

  该AC测试部分最主要的功能是将利用存放在Local Memory的Pattern,经由时序产生模块(Timing Generator),波形格式模块(Waveform Formatter)及信号准位驱动模块(Driver)产生给DUT IC所需要的输入信号。同时DUT IC输出的信号也经由信号准位比较模块(Comparator) ,时序产生模块(Timing Generator)及处理器(Sequencer)和存放在Local Memory的Pattern比较(Comparison)以测试该IC的输出信号是否正常。AC测试部分其模块如图1所示。

  (2)DC测试部分

  DC的测试是使用参数量测模块(Parameter Measurement Unit, PMU)来量测DUT IC有关该IC的漏电源,输出入工作电流/电压是否正常,PMU是一组可以提供电流源及电压源的电源供应器,同时也是一组具有可量测电流值及电压值的量测设备。PMU具有电流及电压限制功能,可让PMU所施予电流及电压值不会超过该电流及电压的限制值,以保护DUT IC不被施予的电流及电压烧掉。DC测试部分其模块如图2所示。

  (3)电源供应部分

  电源供给模块(Device Power Supply, DPS)来供给DUT IC工作所需要的电源,并量测该IC的静态或动态电流是否正常。DPS是一组可以提供电压源的电源供应器,同时也是一组具有可量测电流值的量测设备。DPS具有电流限制功能,可让PMU所施予电流值不会超过该电流的限制值,以保护DUT IC不被施予的电流烧掉。电源供给部分其模块如图3所示。

  2 IC
测试机的使用

  IC
测试机的使用包含有:测试图样编辑(Test Pattern),测试程序(Test Program)编写,测试程序除错,IC电气特性分析以及测试结果统计 等主要项目。

  (1)测试图样编辑

  测试图样分为二部分,第一部分为控制指令(u-Intrution):控制测试图样的测试动作流程,其指令如:Repeat,Match,Jump等,另一部分为:图样符号(Pattern Symbol)如0,1,L,H,Z等。测试图样是用于IC功能AC测试使用,IC
测试机的测试图样编辑功能提能供Test Pattern的显示,修改,贮存等功能。

[录入:admin] [日期:10-08-21]

推荐产品

推荐文档

销售热线:0769-83522588 行动电话:13712342966 刘先生
关于我们联系我们留言反馈链接合作网站地图

Copyright:东莞市赐鸿电子有限公司专业提供:ict在线测试仪ICT测试治具过炉治具
粤ICP备11008958号-3